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Product CenterHAAS-2000 高精度快速光譜輻射計(實驗室級)的快速光譜輻射計。*美國IESNA LM-79和中國GB/T 24824等標準要求。 可實現LED的瞬態光學特性測量(脈沖測量)及穩態光學特性測量(直流測量)。 國家863計劃研究成果,獲美國授權(號:US 7,978,324 B2),“*批自主創新產品",“國家重點新產品"榮譽。
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產品分類HAAS-2000 高精度快速光譜輻射計(實驗室級)
一、產品選型表:
規格 項目 | HAAS-2000 | ||||||
UV | VIS | UVIS | VIR | UVIR | IR1 | IR2 | |
波長測量范圍 | 200-400nm | 380-780nm | 200-800nm | 350-1100nm | 200-1200nm | 780-1650nm | 1500-2550nm |
光學帶寬 | 1nm | 2.0nm | 4nm | 4nm | 5nm | 9nm | 15nm |
波長準確度 | ±0.1nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.3nm | ±0.5nm | ±3nm |
二、基本工作原理:
世界*高精度快速光譜輻射計一般由凹面平均衍射光柵和科學級CCD構成,世界上也只有極少數制造商能夠提供如此高精度的CCD和光柵。然而實踐證明即便是世界*的商用凹面平場衍射光柵和世界*的商用科學級CCD,在系統光學耦合匹配方面仍存在一定不足,遠方公司在高精度快速光譜儀方面積累了豐富經驗,改良了CCD與光柵的匹配設計,使整個系統的光學匹配更趨*,系統所獲得的光譜更純,線性更好。此外,遠方公司采用的雜散光控制技術、寬動態線性技術、精密CCD電子驅動技術和復變矩陣軟件技術,并成功應用了帶通色輪校正技術(BWCT)、分光積分結合技術(SBCT),以及修正的NIST雜散光校正技術等多項技術,整個系統實現了*的5.00E-05的極低雜散光水平(在A光源嚴格條件下)和0.3%的全動態光度線性性能。關鍵技術指標在處地位。
HAAS-2000 高精度快速光譜輻射計(實驗室級)